【产品介绍】：

一 、实验目的 1.了解扫描电子显微镜的原理、结构; 2.运用扫描电子显微镜进行样品微观形貌观察。 二、实验原理 扫描电镜(SEM)是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗粒，成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。其中二次电子是主要的成像信号。由电子枪发射的电子，以其交叉斑作为电子源，经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定束流强度和束斑直径的微细电子束，在扫描线圈驱动下，于试样表面按一定时间、空间顺序作栅网式扫描。聚焦电子束与试样相互作用，产生二次电子发射以及背散射电子等物理信号，二次电子发射量随试样表面形貌而变化。二次电子信号被探测器收集转换成电讯号，经视频放大后输入到显像管栅极，调制与入射电子束同步扫描的显像管亮度，得到反映试样表面形貌的二次电子像。 三、实验仪器 日立S3400扫描电子显微镜(日本电子株式会社) 四、实验步骤. 1.样品的制备 2.仪器的基本操作 1)开启稳压器及水循环系统; 2)开启扫描电镜及能谱仪控制系统; 3)样品室放气，将已处理好的待测样品放入样品支架上; 4)当真空度达到要求后，在一定的加速电压下进行微观形貌的观察。 五、观察结果